2017

După cum reese din denumirea analizatorului de fluorescență cu raze X, dispozitivul analizează razele secundare (fluorescente) care sunt emise de atomii materialului studiat la iradierea lui cu raze primare X. Acest proces este schematic reprezentat în imagine. Razele X primare, obţinute de la o sursă integrată în AFRX, interacţionează cu atomul şi elimină un electron de pe orbitala K. Electronii de pe orbitalii cu energie mai mare, L sau M, tunelează pe poziţia electronului eliminat cu emiterea razelor X secundare, Kα sau Kβ, care sunt detectate de un detector integrat în AFRX. Energia razelor Kα şi Kβ este una caracteristică pentru fiecare atom, iar intensitatea lor corelează cu concentraţia atomului dat în volumul analizat. În principiu, cel mai uşor element care poate fi detectate cu un AFRX este Be(4), iar din cauza limitelor instrumentale este foarte complicată analiza elemente mai uşoare de Na(11). Totuşi, diapazonul elementelor care pot fi analizate cu AFRX este destul de largă, Na(11) – U(92), ce acoperă aproape toate necesităţile a unui laborator experimental. Folosirea unui AFRX la diferite etape de elaborare a unei tehnologii de producere a materialelor noi va spori substanţial eficiența lucrului şi va permite efectuarea modificărilor necesare pentru obţinerea unui rezultat cât mai bun și construi dependenţa proprietăţilor fundamentale ale materialului studiat de compoziţia lui. Adiţional, măsurarea compoziţiei în diferite puncte ale probelor va arăta neomoginetatea ei. Controlul compoziţiei chimice este necesară şi la etapa de producere a dispozitivelor finale pentru evaluarea influenţei compoziției chimice ale diferitor componente.

2018

După cum reese din denumirea analizatorului de fluorescență cu raze X, dispozitivul analizează razele secundare (fluorescente) care sunt emise de atomii materialului studiat la iradierea lui cu raze primare X. Acest proces este schematic reprezentat în imagine. Razele X primare, obţinute de la o sursă integrată în AFRX, interacţionează cu atomul şi elimină un electron de pe orbitala K. Electronii de pe orbitalii cu energie mai mare, L sau M, tunelează pe poziţia electronului eliminat cu emiterea razelor X secundare, Kα sau Kβ, care sunt detectate de un detector integrat în AFRX. Energia razelor Kα şi Kβ este una caracteristică pentru fiecare atom, iar intensitatea lor corelează cu concentraţia atomului dat în volumul analizat. În principiu, cel mai uşor element care poate fi detectate cu un AFRX este Be(4), iar din cauza limitelor instrumentale este foarte complicată analiza elemente mai uşoare de Na(11). Totuşi, diapazonul elementelor care pot fi analizate cu AFRX este destul de largă, Na(11) – U(92), ce acoperă aproape toate necesităţile a unui laborator experimental. Folosirea unui AFRX la diferite etape de elaborare a unei tehnologii de producere a materialelor noi va spori substanţial eficiența lucrului şi va permite efectuarea modificărilor necesare pentru obţinerea unui rezultat cât mai bun și construi dependenţa proprietăţilor fundamentale ale materialului studiat de compoziţia lui. Adiţional, măsurarea compoziţiei în diferite puncte ale probelor va arăta neomoginetatea ei. Controlul compoziţiei chimice este necesară şi la etapa de producere a dispozitivelor finale pentru evaluarea influenţei compoziției chimice ale diferitor componente.

2019

Folosirea unui AFRX la diferite etape de elaborare a unei tehnologii de producere a materialelor noi va spori substanţial eficiența lucrului şi va permite efectuarea modificărilor necesare pentru obţinerea unui rezultat cât mai bun și construi dependenţa proprietăţilor fundamentale ale materialului studiat de compoziţia lui. Adiţional, măsurarea compoziţiei în diferite puncte ale probelor va arăta neomoginetatea ei. Controlul compoziţiei chimice este necesară şi la etapa de producere a dispozitivelor finale pentru evaluarea influenţei compoziției chimice ale diferitor componente.